2.2. Materialcharakterisierung Die Oberflächenmorphologien der Proben wurden unter Verwendung eines Rasterkraftmikroskops (AFM, Nanosurf AG Co., Liestal, Schweiz) im Tap-Modus mit einer Siliziumsonde (Tap 190Al-G, Nasser (Shanghai) Nanotechnology Co., Ltd.) untersucht. , Shanghai, China) in einem Scanbereich von...